- Sections
- G - Physique
- G01N - Recherche ou analyse des matériaux par détermination de leurs propriétés chimiques ou physiques
- G01N 23/2252 - Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement [ondes ou particules], p.ex. rayons X ou neutrons, non couvertes par les groupes , ou en mesurant l'émission secondaire de matériaux en utilisant des microsondes électroniques ou ioniques en utilisant des faisceaux d’électrons incidents, p.ex. la microscopie électronique à balayage [SEM] en mesurant les rayons X émis, p.ex. microanalyse à sonde électronique [EPMA]
Détention brevets de la classe G01N 23/2252
Brevets de cette classe: 136
Historique des publications depuis 10 ans
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2015 | 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 | 2024 |
Propriétaires principaux
Proprétaire |
Total
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Cette classe
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JEOL Ltd. | 556 |
18 |
FEI Company | 851 |
11 |
HORIBA, Ltd. | 746 |
10 |
Applied Materials Israel, Ltd. | 549 |
7 |
Shimadzu Corporation | 5791 |
7 |
Oxford Instruments NanoTechnology Tools Limited | 145 |
6 |
Hitachi High-Tech Corporation | 4424 |
6 |
Bruker Nano GmbH | 63 |
5 |
International Business Machines Corporation | 60644 |
3 |
Pratt & Whitney Canada Corp. | 4215 |
3 |
Commissariat à l'énergie atomique et aux energies alternatives | 10525 |
3 |
JFE Steel Corporation | 6067 |
3 |
Delmic IP B.V. | 19 |
3 |
Proterial, Ltd. | 638 |
3 |
General Electric Company | 18133 |
2 |
Hitachi High-Technologies Corporation | 2034 |
2 |
Hitachi High-Tech Science Corporation | 326 |
2 |
Carl Zeiss Microscopy GmbH | 1146 |
2 |
National University Corporation Hamamatsu University School of Medicine | 122 |
2 |
Siltronic AG | 395 |
2 |
Autres propriétaires | 36 |